南通超聲波探傷儀在實(shí)際的探測(cè)過(guò)程中，會(huì)臨時(shí)出現(xiàn)許多小故障，比如沒(méi)有掃描線(xiàn)，發(fā)生故障的原因有很多因素，如探測(cè)的材質(zhì)，缺陷，工件的形狀等因素，這些因素都會(huì)影響南通超聲波探傷儀探傷波形的高度。任何一個(gè)因素變化都會(huì)改變探傷波形。為此，小編下面給大家介紹一下影響南通超聲波探傷儀波形高度的各種因素：
一、接觸條件的影晌
為使聲波盡可能多的入射工件，在探頭與工件之間，必須涂一層耦合劑(機(jī)油或水)。藕合劑的厚度對(duì)聲波的導(dǎo)入有很大影響，當(dāng)厚度等于四分之一波長(zhǎng)時(shí)，穿透能量最小，此后，厚度與波長(zhǎng)之比為二分之一波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，穿透能量，其比值為四分之一波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)，穿透能量最小。當(dāng)耦合劑厚度與聲波波長(zhǎng)之比(在藕合劑中的波長(zhǎng))在千分之一以下時(shí)，絕大多數(shù)聲能導(dǎo)入工件，大于千分之一時(shí)，穿透能量減小。藕合劑以機(jī)油為例，聲波在鋼中的穿誘率。
二、工件的影晌
1.工件材質(zhì) 材料的晶粒大小和排列方向及結(jié)晶的均勻度等，均影響反射波高度。聲波順著晶粒的排列方向傳播時(shí)，衰減小，反射波高;結(jié)晶不均勻時(shí)，聲波衰減大，反射波低。晶粒粗，聲波衰減大，反射波低，當(dāng)探測(cè)頻率或靈敏度高時(shí)，還會(huì)產(chǎn)生晶粒反射波，衰減嚴(yán)重，甚至無(wú)缺陷波和底波出現(xiàn)。探頭移動(dòng)時(shí)，晶粒反射波的位置和高度有變化。
2.表面光潔度 工件表面光潔度愈好(即探買(mǎi)與工件的接觸條件愈好)，反射波愈高。所以，工件表面光潔度一般要求在▽6以上。
3.工件形狀同一探測(cè)距離的工件，由于探測(cè)面與底面的形狀不同，對(duì)反射波的高度也有影響。圖3-7所示為探測(cè)面形狀不同時(shí)，缺陷波高度與底波高度之比(F/B)的變化情況。
網(wǎng)站客服
